-for-如何發音

-for- 的發音: [d??za?n f??(r) t?st??b?l?ti]

- 為 - 手段

1. 可測試性設計

-for-相關短語

1. 例如，例如；以...為例；

2. 至于，關于；說到；

3. 詢問某人。為了某事向某人索要某事。

4.自找麻煩；惹禍;逗弄蜜蜂和蝎子；給自己惹麻煩；

5. 請求某事。要求某事。

6、請假；

7.尋求幫助；求人;尋求幫助；求人;借光；

8. 叫車 叫車

9. 提出要求……；要求……；要求……；惹禍;

10、抗震設計，抗震設計；

11. 為……做準備[安排]；定居;地方;

12. 爭論；爭論；爭論；支持;同意；

13、系統結構設計、架構設計；

14. 為（建筑物或金錢）騰出空間；

15. 申請工作；

16. 申請；申請;

17.請假請假條；

18. to for 向某人請求某事

19. 因……而尋求幫助；

20. 上訴；將要;

-for- 的雙語示例

1.-對于-，DFT有非常部分的CMOS芯片和。

可測試性設計（-For-，DFT）已成為芯片或系統設計中不可或缺的重要組成部分。

2.-for-（DFT）是一個很好解決的測試。

解決測試問題的一個好方法是使用可測試性設計。

3. 測試和-for-for FFT

FFT處理器的算術測試和可測試性設計

4. 基于，我們對(IIR) 進行-for- 和測試。

基于加法器測試生成網校頭條，提出了一種通用的無限脈沖響應（IIR）濾波器的可測試性設計和測試方案。

5.對于邏輯部分，單元故障模型是新穎的。

邏輯模塊采用新穎的可測試性設計方法，假設單元故障模型。

6. 作為電路板的測試和-For-，-Scan 已在 中。

邊界掃描技術是一種標準的數字電路測試和可測試性設計方法，已在業界得到廣泛應用。

7.基于DSP數據路徑的-for-of-

基于累加器測試的DSP數據路徑結構可測試性設計

8.低功耗MP3及其換機

低功耗MP3解碼器設計及可測試性分析

9.基于-for-的掃描是測試VLSI的新方法。這可以進行VLSI測試，因此它已經進行了多年的測試。

邊緣掃描測試是一種基于可測試性設計的新型測試技術，用于測試大規模集成電路（VLSI）。它可以大大降低VLSI測試生成的復雜度。近年來在電路設計和測試領域得到了廣泛的應用。專注于。

10.之：對于測試成本和故障的之，-for-（DFT）之都。

可測試性的改進。為了降低測試成本、提高故障覆蓋率，原有的核心電路必須進行可測試性設計。為此，本文研究了提高電路可測試性的幾種措施。

11. 新穎的 for-for- (DfT) 來自快速，因為 RBF 與基于 RBF 的 FIR 一樣好、速度快。

由于認識到徑向基函數網絡具有良好的收斂性和收斂速度，并且在計算穩定性方面也具有非常好的性能，因此作者將徑向基函數網絡的優化算法應用到FIR數字濾波器的設計中。

12.-for-和測試-on-a-Chip

SOC可測性設計與測試技術

13.-for-of 和混合-IC

模擬和混合信號芯片的可測試性設計

14. IIR 的測試和-for-

IIR濾波器的測試和可測試性設計

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